An exact method for analyzing boxed microstrips on lossy substrates

MARQUES, R ; HORNO, M

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1989
Volumen: 2
Número: 2
Páginas: 39 - 43
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus127-11-2021
wos127-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1997

Factor de Impacto (SCIE): 0.393

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE90/193Q2T2D5
OPTICSSCIE30/45Q3T2D7

Año:

2011

CiteScore:

1.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering243/589Q2T2D5
Atomic and Molecular Physics, and Optics77/141Q3T2D6
Condensed Matter Physics196/383Q3T2D6
Electronic, Optical and Magnetic Materials98/183Q3T2D6

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0.591

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering86/418Q1T1D3
Atomic and Molecular Physics, and Optics49/111Q2T2D5
Condensed Matter Physics142/311Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials58/137Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1MARQUES, R Universidad de Sevilla (Spain)
2HORNO, MUniversidad de Sevilla (Spain)