An X-ray diffraction study of sulphur hexafluoride-krypton mixtures on graphite

Castro, MA; Thomas, RK 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1998
Volumen: 399
Número: 2-3
Páginas: 212 - 218
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus922-01-2022
wos822-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1998

Journal Impact Factor (JIF): 2.241

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
CHEMISTRY, PHYSICALSCIE20/92Q1T1D3

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,500

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
CHEMISTRY, PHYSICAL86/156Q3T2D645,19
PHYSICS, CONDENSED MATTER37/74Q2T2D550,68

Año:

2011

CiteScore:

3.900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics70/383Q1T1D2
Materials Chemistry30/233Q1T1D2
Surfaces and Interfaces9/49Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films12/91Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.752

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics24/311Q1T1D1
Materials Chemistry14/206Q1T1D1
Surfaces and Interfaces4/46Q1T1D1
Surfaces, Coatings and Films3/94Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Castro, MAUniversity of Oxford; CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (United Kingdom)
2Thomas, RK University of Oxford (United Kingdom)