Divergence analysis of atomic ionization processes and isoelectronic series

López-Rosa, S.; Antolín, J.; Angulo, J. C. ; Esquivel, R. O.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2009
Volumen: 80
Número: 1
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1915-01-2022
wos1915-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2009

Journal Impact Factor (JIF): 2.866

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
OPTICSSCIE7/71Q1T1D1
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE9/33Q2T1D3

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,080

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
OPTICS24/106Q1T1D377,83
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICAL6/40Q1T1D286,25

Año:

2011

CiteScore:

5.000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics14/141Q1T1D1

SJR año:

2009

Factor de Impacto:

2.469

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics8/137Q1T1D1
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Agencia Código de Proyecto
-FQM- 2445; 08266
Andalusian research groupFQM-0207
MICINNFIS-2008-02380; FIS-2005-06237
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1López-Rosa, S.Universidad de Granada (Spain)
2Antolín, J.Universidad de Zaragoza; Universidad de Granada (Spain)
3Angulo, J. C. Universidad de Granada (Spain)
4Esquivel, R. O.Universidad de Granada; Universidad Autónoma Metropolitana (Spain)