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De La Rosa, José M. ; Escalera, Sara; Pérez-Verdú, Belén; Medeiro, Fernando; Guerra, Oscar; Río, Rocío Del; Rodríguez-Vázquez, Angel

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2005
Volumen: 40
Número: 11
Páginas: 2246 - 2264
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus3120-04-2024
wos2120-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2005

Journal Impact Factor (JIF): 1,969

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE30/208Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,490

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC48/306Q1T1D284,48

Año:

2011

CiteScore:

8,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering13/589Q1T1D1

SJR año:

2005

Factor de Impacto:

3,002

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering3/504Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1De La Rosa, José M. Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States)
2Escalera, SaraCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Pérez-Verdú, BelénUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Medeiro, FernandoUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States)
5Guerra, OscarUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); Centre Nacional de Microelectrónica (IMSE-CNM (Spain)
6Río, Rocío DelUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States)
7Rodríguez-Vázquez, AngelUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States)