Simultaneous quantification of light elements in thin films deposited on Si substrates using proton EBS (Elastic Backscattering Spectroscopy)

Ferrer, F. J. ; Alcaire, M.; Caballero-Hernández, J.; García-García, F. J.; Gil-Rostra, J.; Terriza, A.; Godinho, V.; García-López, J.; Barranco, A.; Fernández-Camacho, A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2014
Volumen: 332
Páginas: 449 - 453
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1027-11-2021
wos927-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2014

Factor de Impacto (SCIE): 1.124

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE12/34Q2T2D4
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE34/56Q3T2D7
PHYSICS, ATOMIC, MOLECULAR & CHEMICALSCIE28/34Q4T3D9
PHYSICS, NUCLEARSCIE17/21Q4T3D9

Año:

2014

CiteScore:

2.000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation41/99Q2T2D5
Nuclear and High Energy Physics33/61Q3T2D6

SJR año:

2014

Factor de Impacto:

0.610

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation36/101Q2T2D4
Nuclear and High Energy Physics31/59Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Ferrer, F. J. CSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA) (Spain)
2Alcaire, M.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Caballero-Hernández, J.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4García-García, F. J.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5Gil-Rostra, J.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
6Terriza, A.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
7Godinho, V.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
8García-López, J.Universidad de Sevilla; CSIC-JA-USE - Centro Nacional de Aceleradores (CNA) (Spain)
9Barranco, A.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
10Fernández-Camacho, A.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)