The influence of a top cover on the leakage from microstrip line

Mesa, F; Oliner, AA; Jackson, DR; Freire, MJ

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 48
Número: 12
Páginas: 2240 - 2248
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2404-12-2021
wos2304-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2000

Factor de Impacto (SCIE): 1.004

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE45/204Q1T1D3

Año:

2011

CiteScore:

4.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation3/40Q1T1D1
Condensed Matter Physics41/383Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering59/589Q1T1D2

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

1.559

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics28/316Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering24/422Q1T1D1
Radiation2/28Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Mesa, FUniversidad de Sevilla (Spain)
2Oliner, AANYU Tandon School of Engineering (United States)
3Jackson, DRUniversity of Houston (United States)
4Freire, MJUniversity of Houston (United States)