Pathological Element-Based Active Device Models and Their Application to Symbolic Analysis

Sánchez-López, Carlos ; Fernández, Francisco V.; Tlelo-Cuautle, Esteban; Tan, Sheldon X.D.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2011
Volumen: 58
Número: 6
Páginas: 1382 - 1395
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus10513-08-2022
wos8213-08-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2011

Journal Impact Factor (JIF): 1.970

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE52/245Q1T1D3

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,070

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC79/306Q2T1D374,35

Año:

2011

CiteScore:

4.400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering65/589Q1T1D2

SJR año:

2011

Factor de Impacto:

0.951

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering80/585Q1T1D2
No existen datos para la revista de esta publicación.
Agencia Código de Proyecto
Consejeria de Innovacion, Ciencia y Empresa, Junta de Andalucia-SpainTIC-2532
CSIC cofunded by FSE-Spain-
ERDF-
Promep-MexicoUATLX-PTC-088
Spanish Ministry of Education and ScienceTEC2007-67247; TEC2010-14825
UC-MEXUS-CONACyTCN-09-310
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Sánchez-López, Carlos Universidad de Sevilla (Spain)
2Fernández, Francisco V.Universidad de Sevilla (Spain)
3Tlelo-Cuautle, EstebanInstituto Nacional de Astrofisica Optica y Electronica (Mexico)
4Tan, Sheldon X.D.University of California, Riverside (United States)