Año: 2010
Journal Impact Factor (JIF): 0,789
Categoría | Edición | Posición | Cuartil | Tercil | Decil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | 152/247 | Q3 | T2 | D7 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | 58/64 | Q4 | T3 | D9 |
Año: 2017
Journal Citation Indicator (JCI): 0,370
Categoría | Posición | Cuartil | Tercil | Decil | Percentil |
---|---|---|---|---|---|
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | 214/306 | Q3 | T3 | D7 | 30,23 |
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | 76/116 | Q3 | T2 | D7 | 34,91 |
Agencia | Código de Proyecto |
---|---|
CONACYT at University of California | - |
Consejeria de Innovacion, Ciencia y Empresa, Junta de Andalucia-Spain | TIC-2532 |
FSE, Spain | - |
Promep-Mexico | UATLX-PTC-088 |
UC MEXUS-CONACYT | CN-09-310 |
# | Autor | Afiliación |
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1 | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); Universidad Autónoma de Tlaxcala (Spain) | |
2 | Fernández, F. V. | CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain) |
3 | Tlelo-Cuautle, E. | Instituto Nacional de Astrofisica Optica y Electronica (Mexico) |