Electrooptical measurement system for the DC characterization of visible detectors for CMOS-compatible vision chips

Roca, E ; Frutos, F; Espejo, S; Dominguez-Castro, R; Rodriguez-Vazquez, A

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1998
Volumen: 47
Número: 2
Páginas: 499 - 506
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus515-01-2022
wos315-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1998

Journal Impact Factor (JIF): 0.416

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE96/208Q2T2D5
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE25/52Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC77/306Q2T1D375,00
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION11/69Q1T1D284,78

Año:

2011

CiteScore:

3.100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation14/90Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering121/589Q1T1D3

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0.590

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering87/418Q1T1D3
Instrumentation22/66Q2T1D4
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# Autor Afiliación
1Roca, E CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Frutos, FUniversidad de Sevilla (Spain)
3Espejo, SUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States)
4Dominguez-Castro, RUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States)
5Rodriguez-Vazquez, AUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM); IEEE (United States)