Comparison among different approaches for the full-wave mom characterization of open-ended microstrip lines

Drake, E ; Boix, RR; Horno, M; Sarkar, TK

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1999
Volumen: 21
Número: 4
Páginas: 246 - 248
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus112-06-2021
wos212-06-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1999

Factor de Impacto (SCIE): 0.564

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE87/205Q2T2D5
OPTICSSCIE37/50Q3T3D8

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0.591

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering86/418Q1T1D3
Atomic and Molecular Physics, and Optics49/111Q2T2D5
Condensed Matter Physics142/311Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials58/137Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Drake, E Universidad de Sevilla (Spain)
2Boix, RRUniversidad de Sevilla (Spain)
3Horno, MUniversidad de Sevilla (Spain)
4Sarkar, TKSyracuse University (United States)