Improving Electronic Sensor Reliability by Robust Outlier Screening

Moreno-Lizaranzu, Manuel J.; Cuesta, Federico 

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2013
Volumen: 13
Número: 10
Páginas: 13521 - 13542
Acceso abierto: Vía dorada
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2222-01-2022
wos2222-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2013

Journal Impact Factor (JIF): 2.048

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE10/57Q1T1D2
CHEMISTRY, ANALYTICALSCIE36/76Q2T2D5
ELECTROCHEMISTRYSCIE15/27Q3T2D6

Año:

2013

CiteScore:

3.900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Atomic and Molecular Physics, and Optics27/155Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering114/631Q1T1D2
Analytical Chemistry36/94Q2T2D4
Biochemistry180/371Q2T2D5

SJR año:

2013

Factor de Impacto:

0.636

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering158/622Q2T1D3
Instrumentation28/96Q2T1D3
Atomic and Molecular Physics, and Optics54/155Q2T2D4
Medicine (miscellaneous)1006/2852Q2T2D4
Analytical Chemistry44/102Q2T2D5
Biochemistry231/396Q3T2D6
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Agencia Código de Proyecto
Freescale(R) Semiconductor Inc.-
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Moreno-Lizaranzu, Manuel J.Freescale Semiconductor (United States)
2Cuesta, Federico Universidad de Sevilla (Spain)