Theoretical and experimental characterization of TiO2 thin films deposited at oblique angles

Álvarez, R. ; González-García, L.; Romero-Gómez, P.; Rico, V.; Cotrino, J.; Gonzlez-Elipe, A. R.; Palmero, A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2011
Volumen: 44
Número: 38
Páginas: 385302 - 385308
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4123-10-2021
wos3623-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2011

Factor de Impacto (SCIE): 2.544

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE26/125Q1T1D3

SJR año:

2011

Factor de Impacto:

1.266

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Acoustics and Ultrasonics3/38Q1T1D1
Condensed Matter Physics59/397Q1T1D2
Electronic, Optical and Magnetic Materials28/177Q1T1D2
Surfaces, Coatings and Films11/104Q1T1D2
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Agencia Código de Proyecto
Junta de AndaluciaTEP2275; TEP5283; P07-FQM-03298; FQM-6900
Spanish Ministry of InnovationMAT 2007-65764; 2010-CSD2008-00023; PIE 200960I132
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Álvarez, R. CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2González-García, L.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Romero-Gómez, P.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Rico, V.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5Cotrino, J.Universidad de Sevilla; CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
6Gonzlez-Elipe, A. R.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
7Palmero, A.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)