Quantification of the H content in diamondlike carbon and polymeric thin films by reflection electron energy loss spectroscopy

Yubero, F. ; Rico, V. J.; Espinós, J. P.; Cotrino, J.; González-Elipe, A. R.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2005
Volumen: 87
Número: 8
Páginas: 084101-1 - 084101-3
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus4623-10-2021
wos4323-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2005

Factor de Impacto (SCIE): 4.127

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE4/83Q1T1D1

SJR año:

2005

Factor de Impacto:

3.755

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)6/179Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Yubero, F. CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
2Rico, V. J.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
3Espinós, J. P.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
4Cotrino, J.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)
5González-Elipe, A. R.CSIC-USE - Instituto de Ciencia de Materiales de Sevilla (ICMS) (Spain)