Preparation and characterization of S-33 samples for S-33(n,alpha)Si-30 cross-section measurements at the n_TOF facility at CERN

Praena, J.; Ferrer, F. J.; Vollenberg, W.; Sabaté-Gilarte, M.; Fernández, B.; García-López, J.; Porras, I.; Quesada, J. M.; Altstadt, S.; Andrzejewski, J.; Audouin, L.; Bécares, V.; Barbagallo, M.; Bečvář, F.; Belloni, F.; Berthoumieux, E.; Billowes, J.; Boccone, V.; Bosnar, D.; Brugger, M.; Calviño, F.; Calviani, M.; Cano-Ott, D.; Carrapiço, C.; Cerutti, F.; Chiaveri, E.; Chin, M.; Colonna, N.; Cortés, G.; Cortés-Giraldo, M. A.; Diakaki, M.; Dietz, M.; Domingo-Pardo, C.; Dressler, R.; Durán, I.; Eleftheriadis, C.; Ferrari, A.; Fraval, K.; Furman, V.; Göbel, K.; Gómez-Hornillos, M. B.; Ganesan, S.; García, A. R.; Giubrone, G.; Gonçalves, I. F.; González-Romero, E.; Goverdovski, A.; Griesmayer, E.; Guerrero, C.; Gunsing, F.; Heftrich, T.; Hernández-Prieto, A.; Heyse, J.; Jenkins, D. G.; Jericha, E.; Käppeler, F.; Kadi, Y.; Karadimos, D.; Katabuchi, T.; Ketlerov, V.; Khryachkov, V.; Kivel, N.; Koehler, P.; Kokkoris, M.; Kroll, J.; Krtička, M.; Lampoudis, C.; Langer, C.; Leal-Cidoncha, E.; Lederer, C.; Leeb, H.; Leong, L. S.; Lerendegui-Marco, J.; Losito, R.; Mallick, A.; Manousos, A.; Marganiec, J.; Martínez, T.; Massimi, C.; Mastinu, P.; Mastromarco, M.; Mendoza, E.; Mengoni, A.; Milazzo, P. M.; Mingrone, F.; Mirea, M.; Mondelaers, W.; Paradela, C.; Pavlik, A.; Perkowski, J.; Plompen, A. J.M.; Rauscher, T.; Reifarth, R.; Riego-Perez, A.

10.1016/j.nima.2018.02.055

WOS:000427814900020

2-s2.0-85042724043

11441/87286