An adaptation of the multi-scale methods for the analysis of very thin reticulated structures

Casado-Diaz, J ; Luna-Laynez, M; Martin, JD

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2001
Volumen: 332
Número: 3
Páginas: 223 - 228
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2726-11-2022
wos2826-11-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2001

Journal Impact Factor (JIF): 0.373

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATHEMATICSSCIE89/161Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Casado-Diaz, J Universidad de Sevilla (Spain)
2Luna-Laynez, MUniversidad de Sevilla (Spain)
3Martin, JDUniversidad de Sevilla (Spain)