2-D analysis of leakage in printed-circuit lines using discrete complex-images technique

Bernal, Joaquin ; Mesa, Francisco; Medina, Francisco

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2002
Volumen: 50
Número: 8
Páginas: 1895 - 1900
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1304-12-2021
wos1204-12-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2002

Factor de Impacto (SCIE): 1.511

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE33/203Q1T1D2

Año:

2011

CiteScore:

4.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation3/40Q1T1D1
Condensed Matter Physics41/383Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering59/589Q1T1D2

SJR año:

2002

Factor de Impacto:

2.145

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics17/333Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering30/446Q1T1D1
Radiation1/31Q1T1D1
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# Autor Afiliación
1Bernal, Joaquin Universidad de Sevilla (Spain)
2Mesa, FranciscoUniversidad de Sevilla; IEEE (United States)
3Medina, FranciscoUniversidad de Sevilla; IEEE (United States)