High resolution electron microscopy of GaAs capped GaSb nanostructures

Molina, S. I. ; Beltrán, A. M.; Ben, T.; Galindo, P. L.; Guerrero, E.; Taboada, A. G.; Ripalda, J. M.; Chisholm, M. F.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2009
Volumen: 94
Número: 4
Páginas: 1 - 3
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1627-11-2021
wos1427-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2009

Factor de Impacto (SCIE): 3.554

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
PHYSICS, APPLIEDSCIE14/108Q1T1D2

Año:

2011

CiteScore:

7.000

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)4/37Q1T1D2

SJR año:

2009

Factor de Impacto:

2.826

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Physics and Astronomy (miscellaneous)10/215Q1T1D1
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Agencia Código de Proyecto
CAMS 0505ESP 0200
ConsoliderIngenio 2010CSD2006-00019
Junta de AndaluciaPAI05-TEP-00383; TEP-03516
Office of Basic Energy Sciences, Division of Materials Sciences and Engineering-
SANDiE European Network of ExcellenceNMP4-CT-2004-500101
Spanish MECTEC2005-05781-C03-01 y 02; TEC2008-06756-C03-02/TEC; NAN2004-09109-C04-01
U. S. DOE (MFC)-
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Molina, S. I. Universidad de Cadiz (Spain)
2Beltrán, A. M.Universidad de Cadiz (Spain)
3Ben, T.Universidad de Cadiz (Spain)
4Galindo, P. L.Universidad de Cadiz (Spain)
5Guerrero, E.Universidad de Cadiz (Spain)
6Taboada, A. G.IMN-Instituto de Micro y Nanotecnología (CNM-CSIC) (Spain)
7Ripalda, J. M.IMN-Instituto de Micro y Nanotecnología (CNM-CSIC) (Spain)
8Chisholm, M. F.Oak Ridge National Laboratory (United States)