Structural characterization of GaSb-capped InAs/GaAs quantum dots with a GaAs intermediate layer

Beltran, A. M. ; Ben, T.; Sanchez, A. M.; Ripalda, J. M.; Taboada, A. G.; Molina, S. I.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2011
Volumen: 65
Número: 11
Páginas: 1608 - 1610
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus427-11-2021
wos427-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2011

Factor de Impacto (SCIE): 2.307

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE47/232Q1T1D3
PHYSICS, APPLIEDSCIE30/125Q1T1D3

Año:

2011

CiteScore:

4.200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Mechanical Engineering31/487Q1T1D1
Mechanics of Materials24/296Q1T1D1
Condensed Matter Physics56/383Q1T1D2
General Materials Science51/393Q1T1D2

SJR año:

2011

Factor de Impacto:

1.014

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Materials Science (miscellaneous)90/498Q1T1D2
Mechanical Engineering79/536Q1T1D2
Mechanics of Materials59/318Q1T1D2
Condensed Matter Physics96/397Q1T1D3
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Agencia Código de Proyecto
CONSOLIDER INGENIO2010 CSD2009-00013
Junta de AndaluciaTEP-120; P08-TEP-03516
Spanish MCITEC2008-06756-C03-02/TEC
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Beltran, A. M. Universidad de Cadiz; CEMES Centre d'Elaboration de Matériaux et d'Etudes Structurales (Spain)
2Ben, T.Universidad de Cadiz (Spain)
3Sanchez, A. M.University of Warwick (United Kingdom)
4Ripalda, J. M.IMN-Instituto de Micro y Nanotecnología (CNM-CSIC) (Spain)
5Taboada, A. G.IMN-Instituto de Micro y Nanotecnología (CNM-CSIC) (Spain)
6Molina, S. I.Universidad de Cadiz (Spain)