Automated performance evaluation of skew-tolerant clocking schemes

Guerrero, D. ; Bellido, M. J.; Juan, J.; Millán Calderón, Alejandro; Ruiz-De-Clavijo, P.; Ostúa, E.; Viejo, J.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2006
Volumen: 93
Número: 12
Páginas: 819 - 842
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus021-05-2022
wos021-05-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2006

Journal Impact Factor (JIF): 0.459

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE141/206Q3T3D7

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,290

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC231/306Q4T3D824,67

Año:

2011

CiteScore:

0.800

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering362/589Q3T2D7

SJR año:

2006

Factor de Impacto:

0.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering232/527Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Guerrero, D. Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Bellido, M. J.Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Juan, J.Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Millán Calderón, AlejandroUniversidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Ruiz-De-Clavijo, P.Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
6Ostúa, E.Universidad de Sevilla; CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
7Viejo, J.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)