Comprehensive analysis on the internal power dissipation of static CMOS cells in ultra-deep sub-micron technologies

Millán Calderón, Alejandro ; Bellido, Manuel J.; Juan, Jorge; Guerrero, David; Ruiz-de-Clavijo, Paulino; Viejo, Julian

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2010
Volumen: 6
Número: 1
Páginas: 93 - 102
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus021-05-2022
wos021-05-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,120

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC283/306Q4T3D107,68

Año:

2011

CiteScore:

0.900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering349/589Q3T2D6

SJR año:

2010

Factor de Impacto:

0.195

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering355/574Q3T2D7
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Agencia Código de Proyecto
Spanish Government\'s MEC HYPER projectMIC TEC2007-61802
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Millán Calderón, Alejandro Universidad de Sevilla (Spain)
2Bellido, Manuel J.Universidad de Sevilla (Spain)
3Juan, JorgeUniversidad de Sevilla (Spain)
4Guerrero, DavidUniversidad de Sevilla (Spain)
5Ruiz-de-Clavijo, PaulinoUniversidad de Sevilla (Spain)
6Viejo, JulianUniversidad de Sevilla (Spain)