Constrained state assignment of easily testable fsms

AVEDILLO, MJ ; QUINTANA, JM; HUERTAS, JL

Tipo: Letter
Año de Publicación: 1995
Volumen: 6
Número: 1
Páginas: 133 - 138
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus116-10-2021
wos016-10-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1997

Factor de Impacto (SCIE): 0.089

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE164/193Q4T3D9

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0.145

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering270/418Q3T2D7
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# Autor Afiliación
1AVEDILLO, MJ CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2QUINTANA, JMCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3HUERTAS, JLCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)