Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

A methodology for defect detection in analog circuits based on causal feature selection

Leger, G. ; Ginés, A.; Gutiérrez, V.; Barragán, M. J.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus023-03-2024
wos023-03-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
Agencia Código de Proyecto
French National Research AgencyANR-15-IDEX-02
Spanish Ministerio de Ciencia, Innovacion y Universidades (FEDER program)RTI2018-098513-B-I00
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Leger, G. CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Ginés, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Gutiérrez, V.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Barragán, M. J.Universite Grenoble Alpes (France)