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Disorder-order phase transformation in a fluorite-related oxide thin film: In-situ X-ray diffraction and modelling of the residual stress effects

Gaboriaud, RJ ; Paumier, F; Lacroix, B

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2016
Volumen: 601
Páginas: 84 - 88
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2520-04-2024
wos2420-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2016

Journal Impact Factor (JIF): 1,879

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMSSCIE6/19Q2T1D3
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARYSCIE135/275Q2T2D5
PHYSICS, APPLIEDSCIE64/148Q2T2D5
PHYSICS, CONDENSED MATTERSCIE37/67Q3T2D6

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,520

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, COATINGS & FILMS8/21Q2T2D464,29
MATERIALS SCIENCE, MULTIDISCIPLINARY161/343Q2T2D553,21
PHYSICS, APPLIED78/165Q2T2D553,03
PHYSICS, CONDENSED MATTER34/74Q2T2D554,73

Año:

2016

CiteScore:

3,700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys23/145Q1T1D2
Materials Chemistry55/253Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films26/110Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials57/219Q2T1D3
Surfaces and Interfaces16/50Q2T1D4

SJR año:

2016

Factor de Impacto:

0,639

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Metals and Alloys36/152Q1T1D3
Materials Chemistry67/258Q2T1D3
Surfaces, Coatings and Films30/111Q2T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials64/205Q2T1D4
Surfaces and Interfaces22/48Q2T2D5
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# Autor
1Gaboriaud, RJ 
2Paumier, F
3Lacroix, B