Reflectance of Silicon Photomultipliers at Vacuum Ultraviolet Wavelengths

Lv, P.; Cao, G. F.; Wen, L. J.; Kharusi, S. A.; Anton, G.; Arnquist, I. J.; Badhrees, I.; Barbeau, P. S.; Beck, D.; Belov, V.; Bhatta, T.; Breur, P. A.; Brodsky, J. P.; Brown, E.; Brunner, T.; Mamahit, S. Byrne; Caden, E.; Cao, L.; Chambers, C.; Chana, B.; Charlebois, S. A.; Chiu, M.; Cleveland, B.; Coon, M.; Craycraft, A.; Dalmasson, J.; Daniels, T.; Darroch, L.; St. Croix, A. De; Mesrobian-Kabakian, A. Der; Deslandes, K.; Devoe, R.; Vacri, M. L.DI; DIlling, J.; DIng, Y. Y.; Dolinski, M. J.; Doria, L.; Dragone, A.; Echevers, J.; Edaltafar, F.; Elbeltagi, M.; Fabris, L.; Fairbank, D.; Fairbank, W.; Farine, J.; Ferrara, S.; Feyzbakhsh, S.; Fucarino, A.; Gallina, G.; Gautam, P.; Giacomini, G.; Goeldi, D.; Gornea, R.; Gratta, G.; Hansen, E. V.; Heffner, M.; Hoppe, E. W.; Hobl, J.; House, A.; Hughes, M.; Iverson, A.; Jamil, A.; Jewell, M. J.; Jiang, X. S.; Karelin, A.; Kaufman, L. J.; Koffas, T.; Krucken, R.; Kuchenkov, A.; Kumar, K. S.; Lan, Y.; Larson, A.; Leach, K. G.; Lenardo, B. G.; Leonard, D. S.; Li, G.; Li, S.; Li, Z.; Licciardi, C.; MacLellan, R.; Massacret, N.; McElroy, T.; Medina-Peregrina, M.; Michel, T.; Mong, B.; Moore, D. C.; Murray, K.; Nakarmi, P.; Natzke, C. R.; Newby, R. J.; Ning, Z.; Njoya, O.; Nolet, F.; Nusair, O.; Odgers, K.; Odian, A.; Oriunno, M.; Orrell, J. L.; Ortega, G. S.; Ostrovskiy, I.

2-s2.0-85097993481

10.1109/TNS.2020.3035172