Simulating the impact of random telegraph noise on integrated circuits

Saraza-Canflanca, P.; Camacho-Ruiz, E.; Castro-López, R.; Roca, E.; Martín-Martínez, J.; Rodríguez, R.; Nafria, M.; Fernández, F. V.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus022-01-2022
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1Saraza-Canflanca, P.Universidad de Sevilla (Spain)
2Camacho-Ruiz, E.Universidad de Sevilla (Spain)
3Castro-López, R.Universidad de Sevilla (Spain)
4Roca, E.Universidad de Sevilla (Spain)
5Martín-Martínez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
6Rodríguez, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Fernández, F. V.Universidad de Sevilla (Spain)