A study of SRAM PUFs reliability using the static noise margin

Camacho-Ruiz, E.; Saraza-Canflanca, P.; Castro-López, R.; Roca, E.; Brox, P.; Fernández, F. V.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus122-01-2022
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1Camacho-Ruiz, E.Universidad de Sevilla (Spain)
2Saraza-Canflanca, P.Universidad de Sevilla (Spain)
3Castro-López, R.Universidad de Sevilla (Spain)
4Roca, E.Universidad de Sevilla (Spain)
5Brox, P.Universidad de Sevilla (Spain)
6Fernández, F. V.Universidad de Sevilla (Spain)