Modeling of variability and reliability in analog circuits

Martín-Martínez, Javier; Díaz-Fortuny, Javier; Toro-Frías, Antonio; Martín-Lloret, Pablo; Saraza-Canflanca, Pablo; Castro-López, Rafael; Rodríguez, Rosana; Roca, Elisenda; Fernández, Francisco V.; Nafria, Montserrat

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2020
Páginas: 179 - 206
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus022-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Martín-Martínez, JavierUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
2Díaz-Fortuny, JavierUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Toro-Frías, AntonioUniversidad de Sevilla (Spain)
4Martín-Lloret, PabloUniversidad de Sevilla (Spain)
5Saraza-Canflanca, PabloUniversidad de Sevilla (Spain)
6Castro-López, RafaelUniversidad de Sevilla (Spain)
7Rodríguez, RosanaUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Roca, ElisendaUniversidad de Sevilla (Spain)
9Fernández, Francisco V.Universidad de Sevilla (Spain)
10Nafria, MontserratUniversitat Autònoma de Barcelona (Spain)