Ionizing radiation hardness tests of GaN HEMTs for harsh environments

Vilas Bôas, Alexis C.; de Melo, M. A.A.; Santos, R. B.B.; Giacomini, R.; Medina, N. H.; Seixas, L. E.; Finco, S.; Palomo, F. R.; Romero-Maestre, A.; Guazzelli, Marcilei A.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2021
Volumen: 116
Número de artículo: 114000
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus227-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2020

Factor de Impacto (SCIE): 1.589

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE196/273Q3T3D8
PHYSICS, APPLIEDSCIE118/160Q3T3D8
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGYSCIE94/107Q4T3D9

Año:

2020

CiteScore:

3.600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Safety, Risk, Reliability and Quality52/165Q2T1D4
Condensed Matter Physics164/411Q2T2D4
Electrical and Electronic Engineering261/693Q2T2D4
Surfaces, Coatings and Films42/123Q2T2D4
Atomic and Molecular Physics, and Optics78/192Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials105/246Q2T2D5

SJR año:

2020

Factor de Impacto:

0.445

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering248/655Q2T2D4
Safety, Risk, Reliability and Quality63/165Q2T2D4
Electronic, Optical and Magnetic Materials113/226Q2T2D5
Surfaces, Coatings and Films54/121Q2T2D5
Atomic and Molecular Physics, and Optics95/183Q3T2D6
Condensed Matter Physics211/410Q3T2D6
Nanoscience and Nanotechnology46/79Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Vilas Bôas, Alexis C.Centro Universitario da FEI (Brazil)
2de Melo, M. A.A.Centro Universitario da FEI (Brazil)
3Santos, R. B.B.Centro Universitario da FEI (Brazil)
4Giacomini, R.Centro Universitario da FEI (Brazil)
5Medina, N. H.Universidade de Sao Paulo - USP (Brazil)
6Seixas, L. E.Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer (Brazil)
7Finco, S.Centro de Tecnologia da Informação Renato Archer (Brazil)
8Palomo, F. R.Universidad de Sevilla (Spain)
9Romero-Maestre, A.Universidad de Sevilla (Spain)
10Guazzelli, Marcilei A.Centro Universitario da FEI (Brazil)