Circuit reliability prediction: challenges and solutions for the device time-dependent variability characterization roadblock

Nafria, M.; Díaz-Fortuny, J.; Saraza-Canflanca, P.; Martín-Martínez, J.; Roca, E.; Castro-López, R.; Rodríguez, R.; Martín-Lloret, P.; Toro-Frías, A.; Mateo, D.; Barajas, E.; Aragonés, X.; Fernández, F. V.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2021
Número de artículo: 9437920
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus015-01-2022
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# Autor Afiliación
1Nafria, M.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
2Díaz-Fortuny, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
3Saraza-Canflanca, P.Universidad de Sevilla (Spain)
4Martín-Martínez, J.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
5Roca, E.Universidad de Sevilla (Spain)
6Castro-López, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
7Rodríguez, R.Universitat Autònoma de Barcelona (Spain)
8Martín-Lloret, P.Universidad de Sevilla (Spain)
9Toro-Frías, A.Universidad de Sevilla (Spain)
10Mateo, D.Universitat Politècnica de Catalunya (Spain)
11Barajas, E.Universitat Politècnica de Catalunya (Spain)
12Aragonés, X.Universitat Politècnica de Catalunya (Spain)
13Fernández, F. V.Universidad de Sevilla (Spain)