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Efectos del apego, la fiabilidad y la desconfianza sobre la calidad de relación: propuesta de un modelo de medida en entornos tecnológicos.

Medina Molina, Cayetano; Rey Moreno, Manuel; Villarejo Ramos, Ángel Francisco; Rufín Moreno, Ramón

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2009
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1Medina Molina, Cayetano
2Rey Moreno, Manuel
3Villarejo Ramos, Ángel Francisco
4Rufín Moreno, Ramón