Noninvasive Fault Classification, Robustness and Recovery Time Measurement in Microprocessor-Type Architectures Subjected to Radiation-Induced Errors

Guzmán-Miranda, Hipólito ; Aguirre, Miguel A.; Tombs, J.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2009
Volumen: 58
Número: 5
Páginas: 1514 - 1524
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus3015-01-2022
wos2115-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2009

Journal Impact Factor (JIF): 1.025

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE117/246Q2T2D5
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATIONSCIE27/58Q2T2D5

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC77/306Q2T1D375,00
INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION11/69Q1T1D284,78

Año:

2011

CiteScore:

3.100

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Instrumentation14/90Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering121/589Q1T1D3

SJR año:

2009

Factor de Impacto:

0.419

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering207/554Q2T2D4
Instrumentation40/82Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1Guzmán-Miranda, Hipólito Universidad de Sevilla (Spain)
2Aguirre, Miguel A.Universidad de Sevilla (Spain)
3Tombs, J.Universidad de Sevilla (Spain)