A unified environment for fault injection at any design level based on emulation

López-Ongil, C. ; Entrena, L.; García-Valrlerns, M.; Portela, M.; Aguirre, M. A.; Tombs, J.; Baena, V.; Muñoz, F.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2007
Volumen: 54
Número: 4
Páginas: 946 - 950
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus3214-05-2022
wos2014-05-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2007

Journal Impact Factor (JIF): 1.107

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE5/31Q1T1D2
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE75/227Q2T1D4

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,860

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC107/306Q2T2D465,20
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY11/40Q2T1D373,75

Año:

2011

CiteScore:

3.200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering112/589Q1T1D2
Nuclear Energy and Engineering6/48Q1T1D2
Nuclear and High Energy Physics17/58Q2T1D3

SJR año:

2007

Factor de Impacto:

0.755

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Nuclear Energy and Engineering7/55Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering124/529Q1T1D3
Nuclear and High Energy Physics22/56Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1López-Ongil, C. Universidad Carlos III de Madrid; IEEE (United States)
2Entrena, L.Universidad Carlos III de Madrid; IEEE (United States)
3García-Valrlerns, M.Universidad Carlos III de Madrid; IEEE (United States)
4Portela, M.Universidad Carlos III de Madrid; IEEE (United States)
5Aguirre, M. A.Universidad de Sevilla; IEEE (United States)
6Tombs, J.Universidad de Sevilla; IEEE (United States)
7Baena, V.Universidad de Sevilla (Spain)
8Muñoz, F.Universidad de Sevilla (Spain)