Selective protection analysis using a SEU emulator: testing protocol and case study over the leon2 processor

Aguirre, M. A. ; Tombs, J. N.; Muñoz, F.; Baena, V.; Guzmán, H.; Nápoles, J.; Torralba, A.; Fernández-León, A.; Tortosa-López, F.; Merodio, D.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2007
Volumen: 54
Número: 4
Páginas: 951 - 956
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus3304-02-2023
wos2804-02-2023
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2007

Journal Impact Factor (JIF): 1.107

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGYSCIE5/31Q1T1D2
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE75/227Q2T1D4

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,860

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC107/306Q2T2D465,20
NUCLEAR SCIENCE & TECHNOLOGY11/40Q2T1D373,75

Año:

2011

CiteScore:

3.200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering112/589Q1T1D2
Nuclear Energy and Engineering6/48Q1T1D2
Nuclear and High Energy Physics17/58Q2T1D3

SJR año:

2007

Factor de Impacto:

0.755

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Nuclear Energy and Engineering7/55Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering124/529Q1T1D3
Nuclear and High Energy Physics22/56Q2T2D4
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# Autor Afiliación
1Aguirre, M. A. Universidad de Sevilla; IEEE (United States)
2Tombs, J. N.Universidad de Sevilla; IEEE (United States)
3Muñoz, F.Universidad de Sevilla (Spain)
4Baena, V.Universidad de Sevilla (Spain)
5Guzmán, H.Universidad de Sevilla (Spain)
6Nápoles, J.Universidad de Sevilla (Spain)
7Torralba, A.Sin datos ()
8Fernández-León, A.Universidad de Sevilla; IEEE (United States)
9Tortosa-López, F.ESTEC - European Space Research and Technology Centre (Netherlands)
10Merodio, D.ESTEC - European Space Research and Technology Centre (Netherlands)