Quasi-TEM surface impedance approaches for the analysis of MIC and MMIC transmission-lines, including both conductor and substrate losses

AGUILERA, J ; MARQUES, R; HORNO, M

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1995
Volumen: 43
Número: 7
Páginas: 1553 - 1558
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1227-11-2021
wos1227-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 1997

Factor de Impacto (SCIE): 1.024

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE31/193Q1T1D2

Año:

2011

CiteScore:

4.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Radiation3/40Q1T1D1
Condensed Matter Physics41/383Q1T1D2
Electrical and Electronic Engineering59/589Q1T1D2

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

1.678

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Condensed Matter Physics26/311Q1T1D1
Electrical and Electronic Engineering18/418Q1T1D1
Radiation1/28Q1T1D1
No existen datos para la revista de esta publicación.
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1AGUILERA, J Universidad de Sevilla (Spain)
2MARQUES, RUniversidad de Sevilla (Spain)
3HORNO, MUniversidad de Sevilla (Spain)