Improving the reliability of SRAM-based PUFs under varying operation conditions and aging degradation

Saraza-Canflanca, P.; Carrasco-López, H.; Santana-Andreo, A.; Brox, P.; Castro-López, R.; Roca, E.; Fernández, F. V.

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2021
Volumen: 118
Número de artículo: 114049
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus215-01-2022
wos015-01-2022
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2020

Journal Impact Factor (JIF): 1.589

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE196/273Q3T3D8
PHYSICS, APPLIEDSCIE118/160Q3T3D8
NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGYSCIE94/106Q4T3D9

Año:

2020

CiteScore:

3.600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Safety, Risk, Reliability and Quality52/165Q2T1D4
Condensed Matter Physics164/411Q2T2D4
Electrical and Electronic Engineering261/693Q2T2D4
Surfaces, Coatings and Films42/123Q2T2D4
Atomic and Molecular Physics, and Optics78/192Q2T2D5
Electronic, Optical and Magnetic Materials105/246Q2T2D5

SJR año:

2020

Factor de Impacto:

0.445

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering248/655Q2T2D4
Safety, Risk, Reliability and Quality63/165Q2T2D4
Electronic, Optical and Magnetic Materials113/226Q2T2D5
Surfaces, Coatings and Films54/121Q2T2D5
Atomic and Molecular Physics, and Optics95/183Q3T2D6
Condensed Matter Physics211/410Q3T2D6
Nanoscience and Nanotechnology46/79Q3T2D6
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Agencia Código de Proyecto
AEI/FEDER, UETEC2016-75151-C3-R
MCI/AEI/FEDER, UEPID2019-103869RB-C31
MICINNBES-2017080160
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Saraza-Canflanca, P.Universidad de Sevilla (Spain)
2Carrasco-López, H.Universidad de Sevilla (Spain)
3Santana-Andreo, A.Universidad de Sevilla (Spain)
4Brox, P.Universidad de Sevilla (Spain)
5Castro-López, R.Universidad de Sevilla (Spain)
6Roca, E.Universidad de Sevilla (Spain)
7Fernández, F. V.Universidad de Sevilla (Spain)