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Self-timed boundary-scan cells for multi-chip module test

Garcia, TA ; Acosta, AJ; Mora, JM; Ramos, J; Huertas, JL

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1999
Volumen: 15
Número: 1-2
Páginas: 115 - 127
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-04-2024
wos013-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 1999

Journal Impact Factor (JIF): 0,193

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONICSCIE159/205Q4T3D8

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 0,260

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC241/306Q4T3D821,41

Año:

2011

CiteScore:

1,200

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering298/589Q3T2D6

SJR año:

1999

Factor de Impacto:

0,145

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering270/418Q3T2D7
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# Autor Afiliación
1Garcia, TA Universidad de Sevilla (Spain)
2Acosta, AJUniversidad de Sevilla (Spain)
3Mora, JMUniversidad de Sevilla (Spain)
4Ramos, JUniversidad de Sevilla; Philips Healthcare Nederland (Spain)
5Huertas, JLUniversidad de Sevilla; Philips Healthcare Nederland (Spain)