Degradation delay model extension to CMOS gates

Juan-Chico, J ; Bellido, MJ; Ruiz-de-Clavijo, P; Acosta, AJ; Valencia, M

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2000
Volumen: 1918
Páginas: 149 - 158
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1127-11-2021
wos827-11-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2000

Factor de Impacto (SCIE): 0.253

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCESCIE56/71Q4T3D8
COMPUTER SCIENCE, THEORY & METHODSSCIE47/67Q3T3D8

Año:

2011

CiteScore:

1.300

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
General Computer Science79/176Q2T2D5
Theoretical Computer Science85/115Q3T3D8

SJR año:

2000

Factor de Impacto:

0.309

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Computer Science (miscellaneous)31/78Q2T2D4
Theoretical Computer Science48/76Q3T2D7
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