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Diseño para testabilidad y tolerancia a fallos en circuitos analógicos

Diego Vázquez García de la Vega

Tipo: Tesis
Lectura: 01/01/1996 en Universidad de Sevilla
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
dialnet002-04-2024
No exiten datos para esta publicación
# Autor Departamento
1Diego Vázquez García de la VegaElectrónica y Electromagnetismo
# Director de la tesis Departamento
1José Luis Huertas DíazNo pertenece a la US
2Adoración Rueda RuedaElectrónica y Electromagnetismo