Interfacial characterization of silicon nitride/silicon nitride joints brazed using Cu-base active metal interlayers

Singh, M.; Martinez Fernandez, J. ; Asthana, R.; Rico, J. Ramirez

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 2012
Volumen: 38
Número: 4
Páginas: 2793 - 2802
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus2228-01-2023
wos2128-01-2023
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año: 2012

Journal Impact Factor (JIF): 1.789

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, CERAMICSSCIE3/27Q1T1D2

Año: 2017

Journal Citation Indicator (JCI): 1,400

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecilPercentil
MATERIALS SCIENCE, CERAMICS2/29Q1T1D194,83

Año:

2012

CiteScore:

2.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Ceramics and Composites17/80Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films23/93Q1T1D3
Materials Chemistry61/234Q2T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials63/193Q2T1D4
Process Chemistry and Technology14/37Q2T2D4

SJR año:

2012

Factor de Impacto:

0.810

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Ceramics and Composites17/87Q1T1D2
Materials Chemistry56/241Q1T1D3
Process Chemistry and Technology11/44Q1T1D3
Surfaces, Coatings and Films24/97Q1T1D3
Electronic, Optical and Magnetic Materials57/181Q2T1D4
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Agencia Código de Proyecto
NASA Glenn Research Center-
Nota: los datos sobre financiación provienen de la WOS
# Autor Afiliación
1Singh, M.NASA Glenn Research Center (United States)
2Martinez Fernandez, J. Universidad de Sevilla (Spain)
3Asthana, R.University of Wisconsin-Stout (United States)
4Rico, J. RamirezUniversidad de Sevilla (Spain)