DEGRADACIÓN DEL RETRASO DE PROPAGACIÓN EN PUERTAS LÓGICAS CMOS VLSI

Juan Chico, Jorge

Tipo: Tesis
Año de Publicación: 2000
Nota: Sobresaliente "Cum Laude"
Fecha de lectura: 20/10/2000
Lugar de lectura: Universidad de Sevilla
Próg. doctorado: ELECTRONICA
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
dialnet002-11-2021
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# Autor Departamento
1Juan Chico, JorgeTecnología Electrónica
# Director de la tesis Departamento
1Bellido Diaz, Manuel JesusTecnología Electrónica
2Valencia Barrero, ManuelTecnología Electrónica
# Tutor de la tesis Departamento
1Barriga Barros, AngelElectrónica y Electromagnetismo
1Barriga Barros, AngelNo pertenece a la US