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DEGRADACIÓN DEL RETRASO DE PROPAGACIÓN EN PUERTAS LÓGICAS CMOS VLSI

Juan Chico, Jorge

Tipo: Tesis
Próg. doctorado: ELECTRONICA
Lectura: 20/10/2000 en Universidad de Sevilla
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
dialnet002-04-2024
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Sobresaliente "Cum Laude"

# Autor Departamento
1Juan Chico, JorgeTecnología Electrónica
# Director de la tesis Departamento
1Bellido Diaz, Manuel JesusTecnología Electrónica
2Valencia Barrero, ManuelTecnología Electrónica
# Tutor de la tesis Departamento
1Barriga Barros, AngelElectrónica y Electromagnetismo
1Barriga Barros, AngelNo pertenece a la US