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On-chip reduced-code static linearity test of Vcm-based switching SAR ADCs using an incremental analog-to-digital converter

Feitoza, Renato S.; Barragan, Manuel J.; Gines, Antonio; Mir, Salvador

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2020
Volumen: 2020-May
Número de artículo: 9131588
Acceso abierto: Vía verde
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus013-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
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# Autor Afiliación
1Feitoza, Renato S.Universite Grenoble Alpes (France)
2Barragan, Manuel J.Universite Grenoble Alpes (France)
3Gines, AntonioUniversidad de Sevilla (Spain)
4Mir, SalvadorUniversite Grenoble Alpes (France)