Editorial of the special issue TIAR: Topological image analysis and recognition

Christinal, AH; Diaz-del-Rio, F; Marfil, R; Abril, HM; Moaca, DO; Real, P 

Tipo: Editorial
Año de Publicación: 2020
Volumen: 136
Páginas: 228 - 229
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus018-09-2021
wos018-09-2021
Dimensions
PlumX
Altmetric

Año (SCIE): 2019

Factor de Impacto (SCIE): 3.255

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCESCIE44/137Q2T1D4

SJR año:

2020

Factor de Impacto:

0.669

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Computer Vision and Pattern Recognition18/80Q1T1D3
Software87/352Q1T1D3
Artificial Intelligence69/210Q2T1D4
Signal Processing33/102Q2T1D4
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# Autor Afiliación
1Christinal, AHKarunya Institute of Technology & Sciences (India)
2Diaz-del-Rio, FUniversidad de Sevilla (Spain)
3Marfil, RUniversidad de Malaga (Spain)
4Abril, HMUniversidad de Sevilla (Spain)
5Moaca, DOWest University of Timisoara (Romania)
6Real, P Universidad de Sevilla (Spain)