Técnica de topografía de rayos X Berg-Barrett. Características y aplicaciones

Fernando Guiberteau Cabanillas; Francisco Luis Cumbrera Hernández; S. Pérez Villar; Arturo Domínguez Rodríguez

Tipo: Artículo
Año de Publicación: 1990
Volumen: 29
Número: 6
Páginas: 393 - 402
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
dialnet001-12-2021

Año (SCIE): 2000

Factor de Impacto (SCIE): 0.099

CategoríaEdiciónPosiciónCuartilTercilDecil
MATERIALS SCIENCE, CERAMICSSCIE21/25Q4T3D9

Año:

2011

CiteScore:

0.600

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Industrial and Manufacturing Engineering139/269Q3T2D6
Mechanics of Materials194/296Q3T2D7
Ceramics and Composites54/79Q3T3D7

SJR año:

2002

Factor de Impacto:

0.192

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Industrial and Manufacturing Engineering116/295Q2T2D4
Ceramics and Composites55/81Q3T3D7
Mechanics of Materials175/256Q3T3D7

Convocatoria de origen: 4ª Convocatoria (2014)

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# Autor
1Fernando Guiberteau Cabanillas
2Francisco Luis Cumbrera Hernández
3S. Pérez Villar
4Arturo Domínguez Rodríguez