Ver Publicación - Prisma - Unidad de Bibliometría

Characterisation of Defects at Non-Polar GaN/InGaN Junctions in Novel Materials for Application in Light Emitting Diodes

Severs, J ; Lozano, JG; Hooper, S; Nellist, PD

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2014
Volumen: 522
Número: 1
Acceso abierto: Vía dorada
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus020-04-2024
wos020-04-2024
Dimensions
PlumX
Altmetric
No exiten datos para esta publicación
# Autor Afiliación
1Severs, J University of Oxford (United Kingdom)
2Lozano, JGUniversity of Oxford (United Kingdom)
3Hooper, SSharp Laboratories of Europe Limited (United Kingdom)
4Nellist, PDUniversity of Oxford (United Kingdom)