A 'do-it-yourself' methodology for CMOS transistor mismatch characterization

Serrano-Gotarredona, Teresa ; Linares-Barranco, Bernabe

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 1997
Volumen: 2
Páginas: 1120 - 1123
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus020-11-2021
wos020-11-2021
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# Autor Afiliación
1Serrano-Gotarredona, Teresa CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Linares-Barranco, BernabeCSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)