Contribution of ion beam analysis to study the mechanisms of YBaCuO thin film growth and their oxidation kinetics

Siejka, Julius; Garcia-Lopez, J.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 1996
Volumen: 2696
Número: 2/-
Páginas: 576 - 585
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus015-01-2022

Año:

2011

CiteScore:

0.800

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering360/589Q3T2D7
Applied Mathematics278/381Q3T3D8
Condensed Matter Physics273/383Q3T3D8
Electronic, Optical and Magnetic Materials134/183Q3T3D8
Computer Science Applications342/453Q4T3D8
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# Autor Afiliación
1Siejka, JuliusSorbonne Universite (France)
2Garcia-Lopez, J.Sorbonne Universite (France)