Reliable analysis of settling errors in SC integrators - application to the design of high-speed ΣΔ modulators

del Rio, R.; Medeiro, F.; Perez-Verdu, B.; Rodriguez-Vazquez, A.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2000
Volumen: 4
Páginas: 417 - 420
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus1622-01-2022
wos322-01-2022

Año:

2011

CiteScore:

1.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering245/589Q2T2D5
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# Autor Afiliación
1del Rio, R.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2Medeiro, F.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Perez-Verdu, B.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4Rodriguez-Vazquez, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)