Analysis of leakage in multilayered microstrip lines using complex images

Bernal, J.; Mesa, F.; Medina, F.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus024-09-2022

Año:

2016

CiteScore:

0.900

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering448/654Q3T3D7
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1Bernal, J.Facultad de Fsica (Spain)
2Mesa, F.Facultad de Fsica (Spain)
3Medina, F.Facultad de Fsica (Spain)