An alternative DFT methodology to test high-resolution ∑Δ; modulators

Escalera, S.; García-González, J. M.; Guerra, O.; De La Rosa, J. M.; Medeiro, F.; Pérez-Verdú, B.; Rodríguez-Vázquez, A.

Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus222-01-2022
wos129-01-2022

Año:

2011

CiteScore:

1.700

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Electrical and Electronic Engineering245/589Q2T2D5
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1Escalera, S.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
2García-González, J. M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
3Guerra, O.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
4De La Rosa, J. M.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
5Medeiro, F.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
6Pérez-Verdú, B.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)
7Rodríguez-Vázquez, A.CSIC - Instituto de Microelectronica de Sevilla (IMS-CNM) (Spain)