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Comparison of the thickness determined by Fresnel contrast and Rutherford backscattering spectrometry in ultra-thin layers

Ponce, A.; Molina, S. I.; García-López, J.; Battistig, G.

Tipo: Ponencia
Año de Publicación: 2004
Volumen: 6
Páginas: 305 - 308
Fuente Nº Citas Fecha Actualización
scopus020-04-2024

SJR año:

2004

Factor de Impacto:

0,124

CategoríaPosiciónCuartilTercilDecil
Engineering (miscellaneous)147/246Q3T2D6
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# Autor Afiliación
1Ponce, A.Universidad de Cadiz (Spain)
2Molina, S. I.Universidad de Cadiz (Spain)
3García-López, J.Universidad de Sevilla (Spain)
4Battistig, G.Universidad de Sevilla; Research Institute for Technical Physics and Materials Science Hungarian Academy of Sciences (Spain)